Экситон Аналитик
 
 
Главная 
Компания 
Сервис 
Новости 
Карта сайта 
 
авторизация  
Аналитическое оборудование для характеризации частиц и материалов / Анализаторы размера частиц, лазерная дифракция, дзета-потенциал, форма частиц, реометры - Malvern 
 
Главная
Tinius Olsen
ATS
Oxford Instruments
Acmel
Claisse
Tescan
Spicer Consulting
Quorum Technologies
Morphologi G3 и Sysmex FPIA-3000 - анализаторы изображений частиц

Morphologi G3

Новая высокочувствительная система характеризации частиц Morphologi G3 обеспечивает получение высококачественной и статистически значимой информации о размере и форме частиц. Система Morphologi G3 - это сочетание высококлассного аппаратного и программного обеспечения на единой интегрированной платформе, что обеспечивает высочайшую степень автоматизации измерительного процесса и надёжности получаемых результатов. Morphologi G3 позволяет получить надёжные, достоверные и воспроизводимые результаты в течение минут на стадии фундаментальных исследований, при контроле качества конечного продукта и при контроле производственных процессов.

  • Измерение размеров частиц в диапазоне от 0.5 мкм до 1000 мкм
  • Полностью интегрированная система диспергирования образца, контролируемая из программного обеспечения
  • Высокочувствительные измерения формы и размеров частиц с вычислением различных параметров
  • Регистрируются изображения отдельных частиц
  • Программа анализа позволяет производить сортировку и фильтрацию изображений частиц
  • Новая возможность программного обеспечения группировать и сравнивать данные для выявления степени различия или подобия множества различных измерений
  • Все установки программного и аппаратного обеспечения контролируются посредством стандартных протоколов измерений (SOP)
  • Программное обеспечение позволяет: создавать базу данных измерений с возможностью последующей обработки данных и их экспорта в другие приложения, разрабатывать стандартные протоколы измерений при помощи соответствующего Мастера, создавать собственные формы отчётов; технически соответствует требованиям 21 CFR Части 11

 

Sysmex FPIA-3000

Система Sysmex FPIA-3000 позволяет анализировать размеры и форму частиц образцов в суспензиях и эмульсиях с высокой воспроизводимостью результатов. Уникальный формат представления результатов позволяет производить сопоставление размеров и различных параметров формы частиц; осуществляемая запись изображений каждой частицы образца существенно облегчает интерпретацию данных. Система отлично подходит для приложений, где необходима высокая чувствительность к форме частиц - для определения разницы между такими образцами, как тонеры, абразивы, продукты керамической и фармацевтической промышленности.

  • Измерение размеров частиц в диапазоне от 0.8 мкм до 300 мкм
  • Высокочувствительные измерения формы частиц с вычислением различных параметров
  • Совместимость с водными и безводными суспензиями и эмульсиями
  • Запатентованная технология подачи образца обеспечивает разделение частиц, их корректную ориентацию и локализацию в фокусе
  • Регистрируются изображения отдельных частиц
  • Последовательность автоматизированной процедуры измерения включает очистку и диагностические проверки
  • Программа анализа позволяет производить сортировку и фильтрацию изображений частиц
  • Программное обеспечение позволяет: создавать базу данных измерений с возможностью последующей обработки данных и их экспорта в другие приложения, разрабатывать стандартные протоколы измерений при помощи соответствующего Мастера, создавать собственные формы отчётов; технически соответствует требованиям 21 CFR Части 11

     

Rambler's Top100 Rambler's Top100
ЗАО ЭКСИТОН АНАЛИТИК. Санкт-Петербург.
Тел.: (812) 322-58-99; Факс: (812) 322-58-98
E-mail: sales@exiton-analytic.ru