|
|
|
Системы компенсации магнитных полей Spicer Consulting |
SC20 |
Инсталляция системы в помещении со сканирующим электронном микроскопом.
Система компенсации магнитных полей Spicer Consulting включает в себя модуль управления системой, датчики постоянного или переменного магнитного поля и три многожильных кабеля, которые располагаются по комнате таким образом, чтобы максимально скомпенсировать поле в месте установки оборудования.
Усилители в модуле управления возбуждают токи в кабелях, создавая, таким образом, поле которое противоположно по знаку внешенему полю. Датчики магнитного поля измеряют результирующее значение и в реальном времени отрицательной обратной связью уменьшается внешнее поле, изменяя коэффициент усиления системы.
Система является динамической и автоматически реагирует на изменения поля в течении 100 мкс.
Компенсация постоянного поля от магнитной мешалки и лифтов.
|
|
SC22 |
Сегодняшнее оборудование, использующее при работе электронный пучок с более совершенными характеристиками (например: сканирующий электронный микроскоп) очень чувствительно к окружающим магнитным полям. Воздействие полей вызывает смещение пучка электронов, что приводит к уменьшению разрешающей способности оборудования, снижению точности измерений и ухудшению качества изображений. Магнитные поля, которые превышают значения рекомендованные производителем, встречаются довольно часто. Они могут быть вызваны как внешними источниками, так и приборами, находящимся поблизости. Работа в условиях воздействия таких полей не позволяет использовать все возможности оборудования.
Системы компенсации полей производства Spicer Consulting нейтрализуют влияние изменения магнитного поля, позволяя таким образом достигать заявленных характеристик оборудования и обеспечивать стабильность параметров.
Системы компенсации полей Spicer Consulting высоко ценятся производителями оборудования и ведущими пользователями как наиболее эффективный и простой путь решения проблем, связанных с воздействием магнитных полей, обеспечивающий максимальную гибкость при выборе места для установки сканирующих электронных микроскопов, и систем электронных микроскопов с интегрированной ионной колонной (FIB).
|
Сертификация CSA: список сертификатов безопасности для систем компенсации магнитных полей вы может найти на сайте CSA. |
|
 |
|
|
