|
| Tescan VEGA - серия сканирующих электронных микроскопов полностью управляемых от персонального компьютера |
|
- Уникальная конструкция электронно-оптической колонны с четырьмя линзами обеспечивает в разных режимах: - максимальное разрешение, - максимальная глубина фокуса, - минимальное увеличение и максимальное поле зрения. Переключение между режимами осуществляется мышкой.
- Автоматическая система настройки микроскопа и получения изображения разрешением до 4096х4096 пикс.
- Высокоскоростной турбомолекулярный насос обеспечивает рабочий вакуум за 3 минуты.
- Разные типоразмеры камер и столиков образцов.
- Высоковакуумные модели и модели микроскопов, работающие с высоким и низким вакуумом.
- Запатентованный детектор вторичных электронов LVSTD для работы в режиме низкого вакуума.
- Простое и интуитивно понятное программное обеспечение, работающее в среде Windows.
- Подробное описание и инструкция оператора на русском языке.
- Многопользовательский интерфейс с защитой паролями - идеальное решение для коллективного использования прибора.
- Интегрированная система дистанционного управления микроскопом и диагностики.
- Пакет программного обеспечения для обработки изображений. Создание архивов изображений.
- Идеальная аналитическая геометрия для одновременного использования систем микроанализа EDX, WDX, EBSD.
- Некоторые модели микроскопов оснащены активной "газовой" подвеской, что снижает требования к уровню вибраций в лаборатории.
- Нет необходимости использовать водяное охлаждение вакуумной системы и электроники.
- Наилучшее соотношение цена/возможности.
Области применения:
- Материаловедение, металлургия, криминалистика.
- Биология, экология, фармацевтика.
- Археология, геология, разработка природных ресурсов.
- Полупроводники и электронные компоненты.
- Автомобильная, химическая, атомная промышленность.
- Аналитические приставки INCAEnergy; INCACrystal; INCAWave для расширения возможностей и облати применения сканирующих электронных микроскопов Tescan VEGA. Определение элементного состава образцов с помощью энерго- и волно-дисперсионного анализа.
|
 |
|
