Экситон Аналитик
 
 
Главная 
Компания 
Сервис 
Новости 
Карта сайта 
 
авторизация  
Аналитическое оборудование для характеризации частиц и материалов / Сканирующие электронные микроскопы Tescan / Дополнительное оборудование 
 
Tescan
Модели электронных микроскопов
Дополнительное оборудование
Модернизация электронных микроскопов
Ссылки по теме
Дополнительное оборудование для электронных микроскопов TESCAN

Электронные микроскопы TESCAN могут оснащаться дополнительным оборудованием, расширяющим возможности микроскопа.

  • BSE - детектор отраженных электронов кольцевой сцинтиляторного типа (YAG Crystal) высокой чувствительности и разрешения атомного номера (0.1), невыдвигаемый (имеется в базовой комплектации моделей микроскопов, рассчитанных для работы с низким вакуумом до 500Па).
  • R-BSE - выдвигаемый детектор отраженных электронов кольцевой сцинтиляторного типа (YAG Crystal) высокой чувствительности и разрешения атомного номера (0.1) (имеется в базовой комплектации моделей микроскопов, рассчитанных для работы с низким вакуумом до 2000Па).
  • LVSTD - оригинальный запатентованный детектор вторичных электронов (SE) для работы в режиме низкого вакуума (опция для моделей микроскопов, рассчитанных для работы с низким вакуумом).
  • TE - детектор для работы 'на просвет'. Удобен для работы с биологическими образцами в низковакуумном режиме.
  • EBIC - детектор тока, наведенного электронным пучком.
  • EDX - рентгеновский детектор с дисперсией по энергии.
  • WDX - рентгеновский детектор с дисперсией по длинам волн.
  • EBSD - детектор дифракции отраженных электронов. Dmax- 100мм.

 

Rambler's Top100 Rambler's Top100
ЗАО ЭКСИТОН АНАЛИТИК. Санкт-Петербург.
Тел.: (812) 322-58-99; Факс: (812) 322-58-98
E-mail: sales@exiton-analytic.ru