Экситон Аналитик
 
 
Главная 
Компания 
Сервис 
Новости 
Карта сайта 
 
авторизация  
Аналитическое оборудование для характеризации частиц и материалов / Сканирующие электронные микроскопы Tescan 
 
Tescan
Модели электронных микроскопов
 Новые разработки
 Серия VEGA
 Серия MIRA
 Серия VELA
 Серия LYRA
Дополнительное оборудование
Модернизация электронных микроскопов
Ссылки по теме
Сканирующие электронные микроскопы TESCAN VEGA

Сканирующие электронные микроскопы (СЭМ) серии TESCAN VEGA - полностью управляемые через персональный компьютер, предназначены для работы с высоким и низким вакуумом. Отличительными особенностями приборов являются прекрасные электронно-оптические свойства, немерцающее цифровое изображение отличного качества, мощное программное обеспечение для управления микроскопом и оцифровкой изображений разрешением до 8192х8192 пикс, работающее в среде Windows XPTM или Windows VistaTM, форматы сохраняемых изображений: стандартный BMP, TIFF, PNG и JPEG, гибкая система архивирования обработки и измерения изображений, автоматическая система настройки микроскопа и множество других автоматизированных процедур.

 

Подробное описание микроскопа и инструкция оператора на русском языке.

 

VEGA2 - поколение электроники 2004-2005гг. VEGA - поколение электроники 1999-2003гг.  

 

Уникальная конструкция электронно-оптической колонны с четырьмя линзами позволяет использовать оптическую систему в различных режимах:

- с максимально достижимым разрешением для установленных рабочих параметров,

- с увеличенной глубиной фокуса,

- с расширенным полем зрения и т.д.

 

Совершенная конструкция колонны без единого механически центрируемого элемента, использующая фиксированную апертуру обеспечивает комфортное управление и упрощает обслуживание. Замена эффективной финальной апертуры осуществляется с помощью электромагнита - промежуточная линза работает в качестве устройства смены апертуры.

 

Разрешение всех моделей микроскопов в режиме высокого вакуума - 3.0нм, в режиме низкого вакуума - 3.5нм.

 

Превосходная система крепления образцов на эвцентрическом гониометрическом столике обеспечивает идеальную геометрию для использования микрорентгеноспектрального анализа с дисперсией по энергии (EDX), с дисперсией по длине волны (WDX) и анализа дифракции отраженных электронов (EBSD).

 

Чистый рабочий вакуум быстро и просто достигается с помощью турбомолекулярного и форвакуумного насосов. Переключение из режима высокого вакуума в режим низкого вакуума осуществляется легко и быстро. Дополнительное оборудование в виде детекторов вторичных (LVSTD) и отраженных электронов (R-BSE) позволяет получать отличные изображения при работе в режиме низкого вакуума.

 

Модели микроскопов серий LM и XM оснащены активной пневмоподвеской камеры (или опционально - активной электромагнитной), что снижает требования к уровню вибраций в лаборатории.

 

Высоковакуумные модели микроскопов:
VEGA II SBH  Разрешение 3.0нм, маленькая камера образцов, эуцентричный столик, моторизированное перемещение столика по XYR осям (X=40мм, Y=40мм)
VEGA II LSH Разрешение 3.0нм, средняя камера образцов, компуцентричный столик, моторизован по X,Y,Z,R, перемещение по 5 осям (X=40мм, Y=40мм, Z=47мм). Дополнительно возможно модернизировать столик до следующих диапазонов X x Y перемещений: 40х60 мм, 80х40 мм, 80х60 мм, 60х40 мм, 60х60 мм
VEGA II LMH Разрешение 3.0нм, большая камера образцов, активная пневмоподвеска, компуцентричный столик, моторизован по X,Y,Z,R, перемещение по 5 осям (X=80мм, Y=60мм, Z=47мм)
VEGA II XMH Разрешение 3.0нм, сверхбольшая камера образцов, активная пневмоподвеска, компуцентричный столик, моторизован по X,Y,Z,R,T перемещение по 5 осям (X=130мм, Y=130мм, Z=100мм)
Микроскопы работающие с высоким и низким вакуумом:
VEGA II SBU Разрешение 3.0нм в режиме высокого вакуума и 3.5нм в режиме низкого вакуума, маленькая камера образцов, эуцентричный столик, моторизированное перемещение столика по XYR осям (X=40мм, Y=40мм). Давление до 500Па в режиме низкого вакуума (дополнительная опция до 2000Па)
VEGA II LSU Разрешение 3.0нм в режиме высокого вакуума и 3.5нм в режиме низкого вакуума, средняя камера образцов, эуцентричный столик, моторизован по X,Y,Z,R, перемещение по 5 осям (X=40мм, Y=40мм, Z=47мм). Дополнительно возможно модернизировать столик до следующих диапазонов X x Y перемещений: 40х60 мм, 80х40 мм, 80х60 мм, 60х40 мм, 60х60 мм. Давление до 500Па в режиме низкого вакуума (дополнительная опция до 2000Па)
VEGA II LMU Разрешение 3.0нм в режиме высокого вакуума и 3.5нм в режиме низкого вакуума, большая камера образцов, активная пневмоподвеска (опционально - активная электромагнитная), эуцентричный столик, моторизован по X,Y,Z,R,T перемещение по 5 осям (X=80мм, Y=60мм, Z=47мм). Давление до 500Па в режиме низкого вакуума (дополнительная опция до 2000Па)
VEGA II XMU Разрешение 3.0нм в режиме высокого вакуума и 3.5нм в режиме низкого вакуума, сверхбольшая камера образцов, активная пневмоподвеска (опционально - активная электромагнитная),  компьюцентричный столик, моторизован по X,Y,Z,R,T перемещение по 5 осям (X=130мм, Y=130мм, Z=100мм). Давление до 500Па в режиме низкого вакуума (дополнительная опция до 2000Па)
Rambler's Top100 Rambler's Top100
ЗАО ЭКСИТОН АНАЛИТИК. Санкт-Петербург.
Тел.: (812) 322-58-99; Факс: (812) 322-58-98
E-mail: sales@exiton-analytic.ru